安捷伦科技与海力士半导体公司联合推出用于验证 DDR、GDDR 存储器的长线 ZIF 探针
安捷伦科技公司（NYSE：A）日前宣布：安捷伦与全球领先的半导体存储器产品供应商――海力士半导体公司（Hynix Semiconductor Inc.）携手推出一款高带宽、高性能的长线 ZIF（零插入力）探针，该探针经过优化，适用于 DDR（双数据速率）和 GDDR（图形双数据速率）SDRAM 的验证测试。当距离探测信号较远时，长线 ZIF 探针使工程师能够对高速信号进行精确的测量。这些探针与安捷伦屡获殊荣的 InfiniiMax 和 ZIF 探测系统结合使用，可提高每个焊接件的可用性并降低测试成本。
该探测选件解决了 DDR 设计中的一个基本难题：使工程师能够在保持信号完整性的同时，对 DRAM 芯片上难以触及的位置进行探测。随着 DDR 和 GDDR SDRAM 器件的速度不断提高，设计裕量变得越来越少，探测系统的性能也变得更加重要。长线 ZIF 探针解决了这个探测难题。
DDR 和 GDDR 验证的另一个难题是根据 JEDEC 技术指标需要测试大量信号。长线 ZIF 探针使工程师能够轻松地对 SDRAM 设备上需要探测的多个信号进行切换。
长线 ZIF 探针完全满足对 DDR 存储器设计进行全面一致性测试的需求。
海力士图形存储器应用部副总裁 Kun-Sang Yoon表示：“我们对原来的 Agilent ZIF 探针附件一直都非常满意，但是我们希望有更长、更灵活的探针，以便能够探测距离更远的信号。安捷伦听取了我们的反馈意见，并快速做出回应，为我们提供了令人满意的探测解决方案。长线 ZIF 探针附件具有很高的信号完整性性能，使我们能够精确测量高速信号。”
安捷伦科技副总裁兼示波器产品线部门总经理Scott Sampl表示：“安捷伦密切关注客户的需求。我们的专家与海力士等业界领先厂商以及标准机构紧密合作，所以我们能够迅速做出反应，及时进行改变，以提高测量效率和精度。从 BGA 探测技术到一致性应用软件，我们都拥有合适的工具，可以帮助工程师快速验证 DDR 和 GDDR 存储器设计。”
该探测选件解决了 DDR 设计中的一个基本难题：使工程师能够在保持信号完整性的同时，对 DRAM 芯片上难以触及的位置进行探测。随着 DDR 和 GDDR SDRAM 器件的速度不断提高，设计裕量变得越来越少，探测系统的性能也变得更加重要。长线 ZIF 探针解决了这个探测难题。
DDR 和 GDDR 验证的另一个难题是根据 JEDEC 技术指标需要测试大量信号。长线 ZIF 探针使工程师能够轻松地对 SDRAM 设备上需要探测的多个信号进行切换。
长线 ZIF 探针完全满足对 DDR 存储器设计进行全面一致性测试的需求。
海力士图形存储器应用部副总裁 Kun-Sang Yoon表示：“我们对原来的 Agilent ZIF 探针附件一直都非常满意，但是我们希望有更长、更灵活的探针，以便能够探测距离更远的信号。安捷伦听取了我们的反馈意见，并快速做出回应，为我们提供了令人满意的探测解决方案。长线 ZIF 探针附件具有很高的信号完整性性能，使我们能够精确测量高速信号。”
安捷伦科技副总裁兼示波器产品线部门总经理Scott Sampl表示：“安捷伦密切关注客户的需求。我们的专家与海力士等业界领先厂商以及标准机构紧密合作，所以我们能够迅速做出反应，及时进行改变，以提高测量效率和精度。从 BGA 探测技术到一致性应用软件，我们都拥有合适的工具，可以帮助工程师快速验证 DDR 和 GDDR 存储器设计。”
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